Module de formation
Initiation à la microscopie électronique à balayage
Objectif de la formation : Cette formation va porter sur deux parties, théorique et pratique, qui permettront aux stagiaires de maîtriser cette technique puissante et incontournable de caractérisation micro-structurale des matériaux et de leur composition.
NOMBRE D’HEURES
6 Heures (1 Jour)
MATÉRIELS UTILISÉS
MEB
LOGICIELS UTILISÉS
XT microscope Control
AXE I
Titre : Introduction
Description : De la lumière vers les électrons
AXE II
Titre : Théorie de la microscopie électronique à balayage
Description :
- Historique et principe du MEB
- Description des différentes parties du MEB et de leur fonctionnement
- Interaction électrons/matière
- Système du vide
- Modes d’imagerie
AXE III
Titre : Préparation des échantillons
Description :
- Métallisation des échantillons non conducteurs
- Montage des échantillons sur fond conducteur
AXE IV
Titre : La microscopie électronique en pratique
Description :
- Familiarisation avec l’interface utilisateur (XT microscope Control)
- Préparation des échantillons
- Utilisation du mode High Vacuum
- Utilisation du mode Low Vacuum et ESEM
AXE V
Titre : La micro-analyse chimique
Description :
- Notion sur la spectroscopie des rayons X a dispersion d’énergie (EDS)
- Démonstration sur les fonctionnalités du spectromètre (analyse ponctuelle, analyse globale, cartographie, profil de concentration …)
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Filiale économique du Centre de Recherche Scientifique et Technique en Analyses Physico-Chimiques (CRAPC)
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